芯片整體掃描檢測
傳感器型號：HD6-0007
測量方法：
·掃描整顆IC，分析平面度，引腳平整度，站高等
測量優(yōu)勢：
·自動補償物品位置偏移，一鍵測量，可開發(fā)定制測量內(nèi)容
測量方法：
·掃描整顆IC，分析平面度，引腳平整度，站高等
測量優(yōu)勢：
·自動補償物品位置偏移，一鍵測量，可開發(fā)定制測量內(nèi)容
激光與測量產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商
專注激光測量·掌握核心科技
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